半导体质量工程与知识产权联盟首次专家会议在深研院召开

10月30日,半导体质量工程与知识产权技术联盟/创新联合体创始专家委员会首次会议在北京大学深圳研究生院召开。联盟聚焦失效分析、可靠性、知识产权、破坏性物理分析、测试及良率工程六大领域,与会专家就可靠性评价、测试方法及相关标准建设、失效分析与可靠性工程标准体系等提出建议。

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