材料解析AEC-Q100-005规定的EDR组合考核方法，针对非易失性存储器及含NVM的集成电路，要求先完成最大编程/擦除循环的老化预处理，再分流进行数据保持与工作寿命考核。擦写耐久性在高温（≥85℃）与低温（≤55℃）下执行最大P/E循环；高温与低温数据保持均在循环后存储1000小时。
材料解析AEC-Q100-005规定的EDR组合考核方法，针对非易失性存储器及含NVM的集成电路，要求先完成最大编程/擦除循环的老化预处理，再分流进行数据保持与工作寿命考核。擦写耐久性在高温（≥85℃）与低温（≤55℃）下执行最大P/E循环；高温与低温数据保持均在循环后存储1000小时。