国家知识产权局信息显示，胜科纳米（苏州）股份有限公司申请一项名为“一种芯片低温测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，申请公布号为CN123009577A，申请日为2026年8月26日，公布日为2026年10月30日。专利摘要显示，该方法通过温度控制装置调节芯片样品温度，并用干燥气体去除样品表面水汽以防结霜或水雾，再以热点成像定位失效点位。
国家知识产权局信息显示，胜科纳米（苏州）股份有限公司申请一项名为“一种芯片低温测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，申请公布号为CN123009577A，申请日为2026年8月26日，公布日为2026年10月30日。专利摘要显示，该方法通过温度控制装置调节芯片样品温度，并用干燥气体去除样品表面水汽以防结霜或水雾，再以热点成像定位失效点位。