针对半导体器件二次筛选有效性缺乏量化依据、过筛判定困难等问题，研究提出基于最大熵原理的二筛有效性量化判定方法。该方法推导出早期失效服从威布尔分布，将故障数据描述为非齐次泊松过程，并利用卡方分布计算生产环节故障数的区间估计，界定二筛故障比例上下限作为判定边界。实际案例验证表明，该方法可判定二筛有效性及是否存在过筛。
针对半导体器件二次筛选有效性缺乏量化依据、过筛判定困难等问题，研究提出基于最大熵原理的二筛有效性量化判定方法。该方法推导出早期失效服从威布尔分布，将故障数据描述为非齐次泊松过程，并利用卡方分布计算生产环节故障数的区间估计，界定二筛故障比例上下限作为判定边界。实际案例验证表明，该方法可判定二筛有效性及是否存在过筛。