华科智源推出半导体分立器件静态参数测试仪系统

深圳市华科智源科技有限公司推出半导体分立器件静态参数测试仪系统HUSTEC-DC-2010,由测试主机和程控电脑组成,可外挂夹具和适配器,并通过Prober、Handler接口连接分选机和机械手。该系统面向来料检验、失效分析、选型配对和量产测试等场景,可测试7大类26分类电子元器件。

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