金鉴实验室发布文章介绍静电放电（ESD）测试，指出约40%的集成电路失效由ESD引起。文中说明HBM、MM、CDM三种放电模型，并称AEC-Q100至Q104依据JS-001及JS-002进行HBM和CDM测试，AEC-Q200依据ISO 10605分接触放电和空气放电，该实验室可提供相关测试服务。
金鉴实验室发布文章介绍静电放电（ESD）测试，指出约40%的集成电路失效由ESD引起。文中说明HBM、MM、CDM三种放电模型，并称AEC-Q100至Q104依据JS-001及JS-002进行HBM和CDM测试，AEC-Q200依据ISO 10605分接触放电和空气放电，该实验室可提供相关测试服务。