广东爱佩试验设备有限公司推出型号AP-PCT的非饱和高压加速老化设备，用于半导体及车规电子可靠性测试。设备可调控温度、压力与非饱和湿度，在105℃~143℃、65%~100% RH条件下开展带偏压湿热加速试验，材料称符合GB/T 2423.40、JESD22-A110、JESD22-A118标准要求，适用于IC芯片、功率器件、封装材料等耐湿可靠性验证。
广东爱佩试验设备有限公司推出型号AP-PCT的非饱和高压加速老化设备，用于半导体及车规电子可靠性测试。设备可调控温度、压力与非饱和湿度，在105℃~143℃、65%~100% RH条件下开展带偏压湿热加速试验，材料称符合GB/T 2423.40、JESD22-A110、JESD22-A118标准要求，适用于IC芯片、功率器件、封装材料等耐湿可靠性验证。