该产品简介称PCT老化试验机用于测试电工、电子产品、半导体、IC芯片及元器件在高温、高温高湿及压力气候条件下的性能，测试后通过检定判断产品性能是否达到要求，供设计、改进、检定及出厂检验使用。技术指标列出温度范围RT+10~135℃、湿度100%RH、压力0~3kg/cm2、试验时间0~999h，并列出所依据的多项湿热及温湿试验标准。
该产品简介称PCT老化试验机用于测试电工、电子产品、半导体、IC芯片及元器件在高温、高温高湿及压力气候条件下的性能，测试后通过检定判断产品性能是否达到要求，供设计、改进、检定及出厂检验使用。技术指标列出温度范围RT+10~135℃、湿度100%RH、压力0~3kg/cm2、试验时间0~999h，并列出所依据的多项湿热及温湿试验标准。