一份标注为“电路基础及评价”的课件第九章介绍集成电路可靠性评价，涉及产品级或封装可靠性评价，列出寿命测试中的早期失效率试验（ELFR）和高温工作寿命试验（HTOL）的分级温度与时间条件、样品数量及接受标准，以及HAST、UHAST、TC、PTC等环境测试项目和预处理要求。
一份标注为“电路基础及评价”的课件第九章介绍集成电路可靠性评价，涉及产品级或封装可靠性评价，列出寿命测试中的早期失效率试验（ELFR）和高温工作寿命试验（HTOL）的分级温度与时间条件、样品数量及接受标准，以及HAST、UHAST、TC、PTC等环境测试项目和预处理要求。