瑞凯仪器介绍高压加速老化试验箱（PCT/HAST）可执行的电子器件可靠性测试项目，包括半导体IC封装耐湿性测试、PCB基材水解试验、引脚与焊盘腐蚀评估、连接器绝缘性能老化、光通信器件吸湿可靠性、MEMS与传感器密封性能验证六类。文中称PCT适配100%饱和蒸汽无偏压结构类测试，HAST支持非饱和湿热带电偏压电性能老化测试，并列出了对应标准依据。
瑞凯仪器介绍高压加速老化试验箱（PCT/HAST）可执行的电子器件可靠性测试项目，包括半导体IC封装耐湿性测试、PCB基材水解试验、引脚与焊盘腐蚀评估、连接器绝缘性能老化、光通信器件吸湿可靠性、MEMS与传感器密封性能验证六类。文中称PCT适配100%饱和蒸汽无偏压结构类测试，HAST支持非饱和湿热带电偏压电性能老化测试，并列出了对应标准依据。