瑞凯仪器发文介绍半导体芯片快速温变试验箱测试，梳理JESD22-A104与AEC-Q100标准要求。文中称JESD22-A104典型条件为-65℃至+150℃、线性温变速率不低于15℃/min；AEC-Q100温度循环属A4测试组，方法引用JESD22-A104，Grade 0推荐10至14℃/min、-40℃至+150℃、1000次循环以上，并提出选型应关注满载线性速率与带电在线监测。
瑞凯仪器发文介绍半导体芯片快速温变试验箱测试，梳理JESD22-A104与AEC-Q100标准要求。文中称JESD22-A104典型条件为-65℃至+150℃、线性温变速率不低于15℃/min；AEC-Q100温度循环属A4测试组，方法引用JESD22-A104，Grade 0推荐10至14℃/min、-40℃至+150℃、1000次循环以上，并提出选型应关注满载线性速率与带电在线监测。