封装键合外观测试全过仍批量漏电,隐蔽弹坑成因与排查分析

有封装从业者反映,引线键合后外观检查、拉力推力测试均达标,但经温度循环与蒸煮等可靠性试验后整批器件漏电失效,开片发现焊盘底部存在肉眼不可见的弹坑。分析认为键合超声功率与压力过大、铝焊盘偏薄及钝化层强度不足、劈刀磨损未更换等可能导致该问题,建议先降低键合参数排查,仍出现则由晶圆厂评估焊盘堆叠结构。

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