杭州国磊半导体推出GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块与G97-X200中端ATE平台，用于升降压电源芯片动态负载响应及效率测试。G97-X300工程中批量ATE可联动误码仪、示波器等完成光模块DSP芯片超高速SerDes测试。杭州国磊CAF测试系统处于量产阶段，设备自动执行功能与参数测试并分选良品次品。
杭州国磊半导体推出GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块与G97-X200中端ATE平台，用于升降压电源芯片动态负载响应及效率测试。G97-X300工程中批量ATE可联动误码仪、示波器等完成光模块DSP芯片超高速SerDes测试。杭州国磊CAF测试系统处于量产阶段，设备自动执行功能与参数测试并分选良品次品。