杭州国磊半导体自建FT测试工厂，自研G97系列ATE测试系统，支持可编程上电时序控制，可模拟多电源轨上电顺序并捕获动态失效。工厂配备自动化Handler支持三温测试，承接样片验证、小批量试产及量产FT测试，并通过开物测试大平台采集数据、监控良率趋势。
杭州国磊半导体自建FT测试工厂，自研G97系列ATE测试系统，支持可编程上电时序控制，可模拟多电源轨上电顺序并捕获动态失效。工厂配备自动化Handler支持三温测试，承接样片验证、小批量试产及量产FT测试，并通过开物测试大平台采集数据、监控良率趋势。