杭州国磊推出GI系列PXIe测试板卡用于晶圆预测试与CP

杭州国磊推出GI系列PXIe测试板卡,包括GI-SMUBV04、GI-SMUMV04、GI-SMUHV01、GI-DMUMS32、GI-CBIT120等型号。材料称其可用于流片后封装前的晶圆CP与裸片电学预筛选,支持模拟参数扫描、击穿电压与漏电流检测及基础数字功能验证,并兼容国内主流PXIe机箱、探针台、分选机与控制器。

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