半导体工程刊文探讨硅光子及共封装光学的规模化测试挑战

半导体工程网站发布由Advantest公司V93000光子业务负责人Clemens Leichtle撰写的文章,讨论硅光子及共封装光学测试。文章指出,人工智能和高性能计算推动数据搬运需求,传统电互连在功耗、延迟和传输距离上受限,硅光子、近封装光学和共封装光学因此日益重要,规模化测试成为议题之一。

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