Semiconductor Engineering刊发专题讨论，来自Keysight等机构的专家围绕共封装光学（CPO）与近封装光学（NPO）的测试成本及失效分析展开交流。专家提出以参考平面界定电、光测量边界，对探针、插座、连接器等环节去嵌入，并在各测试插入阶段保持边界条件一致；测试单个光引擎时可用已知特性的替代件模拟相邻部分。与会者还讨论了在光路中加入监测光电二极管、回环测试及抽头能力以辅助定位故障。
Semiconductor Engineering刊发专题讨论，来自Keysight等机构的专家围绕共封装光学（CPO）与近封装光学（NPO）的测试成本及失效分析展开交流。专家提出以参考平面界定电、光测量边界，对探针、插座、连接器等环节去嵌入，并在各测试插入阶段保持边界条件一致；测试单个光引擎时可用已知特性的替代件模拟相邻部分。与会者还讨论了在光路中加入监测光电二极管、回环测试及抽头能力以辅助定位故障。