存储测试机是用于存储器芯片电气性能、功能和可靠性检测的半导体测试主机，属于ATE自动测试设备大类。其与SoC测试机的差异源于被测对象架构不同，测试重点集中于读写功能、时序窗口、数据保持及坏点筛查。该行业上游包括高速测试板卡、探针卡、老化板等，国产化推进较慢，长期被海外厂商垄断。
存储测试机是用于存储器芯片电气性能、功能和可靠性检测的半导体测试主机，属于ATE自动测试设备大类。其与SoC测试机的差异源于被测对象架构不同，测试重点集中于读写功能、时序窗口、数据保持及坏点筛查。该行业上游包括高速测试板卡、探针卡、老化板等，国产化推进较慢，长期被海外厂商垄断。