电性能异常原因分析服务覆盖半导体器件失效检测

该技术服务针对电子元器件及线路系统在测试或运行中的参数偏离、功能失效等异常,通过电气测试、失效定位与机理研究查明根源。检测样品涵盖印制电路板、电子元器件、半导体器件、线缆线束、电池电源、电机变压器及整机子系统,送检建议提供失效样品与良品对照及工况背景信息。

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