芯片FT测试原理与流程解析:ATE与分选机协同完成封装后电气测试

文章介绍芯片FT(Final Test)即封装后成品电气测试,由ATE自动测试设备施加电源、信号和负载并测量响应,Handler分选机负责送入测试位置并按结果分档,负载板与测试座连接器件引脚;测试程序规定测试条件与判定限值,先做接触与开短路检查,DC测试验证基本电气特性。

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