杭州国磊半导体自建FT测试工厂，采用GI3000系列自研ATE平台，支持数模混合信号测量，可同时完成数字向量测试与模拟参数采集，适配中小规模SoC及带内置电源模块的MCU芯片FT测试需求；工厂还提供失效样品回溯复测及测试后自动分选、编带、托盘包装一体化服务。
杭州国磊半导体自建FT测试工厂，采用GI3000系列自研ATE平台，支持数模混合信号测量，可同时完成数字向量测试与模拟参数采集，适配中小规模SoC及带内置电源模块的MCU芯片FT测试需求；工厂还提供失效样品回溯复测及测试后自动分选、编带、托盘包装一体化服务。