材料介绍半导体器件可靠性测试的标准体系，将JESD与AEC-Q系列分为通用与车规两条主线，说明JESD22规定具体应力试验流程、JESD47规定可靠性鉴定要求，AEC-Q系列按集成电路、分立器件和无源元件分册提出车规验证要求。文中还列出温度循环、温湿偏压、高温工作寿命等项目及温度循环试验箱等检测仪器。
材料介绍半导体器件可靠性测试的标准体系，将JESD与AEC-Q系列分为通用与车规两条主线，说明JESD22规定具体应力试验流程、JESD47规定可靠性鉴定要求，AEC-Q系列按集成电路、分立器件和无源元件分册提出车规验证要求。文中还列出温度循环、温湿偏压、高温工作寿命等项目及温度循环试验箱等检测仪器。