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温度循环与温度冲击试验:温变率差异及电子器件可靠性验证应用

温度循环与温度冲击试验:温变率差异及电子器件可靠性验证应用

温度循环与温度冲击的界线落在温变率上:前者约每分钟5~15℃,后者超过每分钟40℃。本文说明两类试验的实现方式、适用对象与选型线索,并指出温变率、转换时间等条件应在方案中写明并可核验。

admin admin 2026-10-27
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