标签：芯片失效分析

HAST测试中芯片失效不一定源于芯片本体。PCB微短路可能触发或掩盖失效，需从板级污染、吸湿、设计与夹具状态逐项排查，并用失效分析、材料分析、化学分析和信号测试区分板侧异常与芯片真实损伤。

admin 2026-10-28

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