半导体可靠性测试是一组按应力类型组合的验证项目。高温工作寿命、高温储存、温度循环、冷热冲击、THB、HAST、ESD与闩锁测试各自指向不同失效风险,本文说明各项目验证什么、条件差别在哪,以及设备选型前要确认的信息。