标签：高温工作寿命试验

半导体可靠性测试包含多个项目，各自针对不同失效机理。本文梳理HTOL、HTSL、温度循环、冷热冲击、THB、HAST、ESD与闩锁分别验证什么，并说明设备配置与选型前要确认的信息。

admin 2026-11-03

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