首页
可靠性试验
环境与气候试验
寿命与老化试验
电气鲁棒性试验
封装与组装试验
机械与结构试验
快讯
技术资料
标准解读
试验方法
结果判读
技术案例
常见问题
设备供求
环境试验设备
机械试验设备
电气测试设备
二手设备
设备求购
行业资讯
行业动态
企业资讯
标准与政策
新品与技术
检测咨询
商务合作
登录
首页
可靠性试验
环境与气候试验
寿命与老化试验
电气鲁棒性试验
封装与组装试验
机械与结构试验
快讯
技术资料
标准解读
试验方法
结果判读
技术案例
常见问题
设备供求
环境试验设备
机械试验设备
电气测试设备
二手设备
设备求购
行业资讯
行业动态
企业资讯
标准与政策
新品与技术
检测咨询
商务合作
立即登录
登录后体验更多功能
浏览
首页
可靠性试验
环境与气候试验
寿命与老化试验
电气鲁棒性试验
封装与组装试验
机械与结构试验
快讯
技术资料
标准解读
试验方法
结果判读
技术案例
常见问题
设备供求
环境试验设备
机械试验设备
电气测试设备
二手设备
设备求购
行业资讯
行业动态
企业资讯
标准与政策
新品与技术
检测咨询
商务合作
设置
深色模式
标签:electronica 2026
Nordic率先完成蓝牙高速吞吐量(HDT)特性芯片级验证
2026年11月2日,Nordic Semiconductor宣布完成蓝牙高速吞吐量(HDT)特性的芯片级验证,成为首批展示该特性支持的厂商之一。该标准预计2026年末发布,当前仍处验证阶段。
admin
2026-11-03
1
0
0