HTOL与LTOL都属于IC服务寿命内的寿命试验，作用是用较短时间评估器件的长期耐久性。二者不能互相替代，选哪一种主要取决于工艺节点、器件类型以及产品的高低温工作条件。本文把质量与可靠性的分工讲清楚，再说明两类试验各自解决什么问题。
2026-10-27