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芯片封装可靠性试验项目全解析:从预处理到THB、TCT、HAST

芯片封装可靠性试验项目全解析:从预处理到THB、TCT、HAST

芯片封装可靠性测试不是单项试验,而是预处理之后的湿热、热应力与功率类组合验证。本文梳理THB、H3TRB、PCT、HST、HAST、TCT、TST、HTST/LTST与PTC的典型条件、作用和判定要点,并说明常见易混点与送样安排。

admin admin 2026-10-21
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