new 奇瑞发布紫微S系列车规功率芯片路线图:S1500计划2027年量产,8英寸平台2026年导入

奇瑞发布紫微S系列车规功率芯片路线图:S1500计划2027年量产,8英寸平台2026年导入

据2026年10月23日发布的素材,奇瑞在全球创新大会上公布紫微S系列车规功率芯片规划:S750、S1200排在2026年,S1500排在2027年,另有一颗面向AI供电的S2300。工艺平台从6英寸平面走向8英寸,2027年规划沟槽或超结结构。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
new 汽车电子可靠性验证与寿命评估:ISO 26262框架下的测试挑战与案例分析

汽车电子可靠性验证与寿命评估:ISO 26262框架下的测试挑战与案例分析

汽车电子可靠性验证不能靠单次测试过关。文章把任务剖面、故障分类、供应链数据、制造后测试、加速寿命和现场记录串成闭环,结合吉利、OBC和先进节点案例,说明ISO 26262框架下哪些能确认、哪些必须回查标准原文并由企业核实。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
new 芯片加速老化测试(HAST)与芯片高温工作寿命测试(HTOL)解析

芯片加速老化测试(HAST)与芯片高温工作寿命测试(HTOL)解析

HAST 与 HTOL 各管什么?本文按 NTEK 北测 2022-08-25 原文梳理:HAST 典型条件 130°C/85%RH、仅限塑料封装、HAST 与 UHAST 的偏置区别,HTOL 的六个管控环节与三个难点,并标注原文未给出判据、文末规格参数归属待核实等信息边界。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
new Littelfuse发布低钳位电压超低电容瞬态抑制二极管阵列

Littelfuse发布低钳位电压超低电容瞬态抑制二极管阵列

2026年10月20日,Littelfuse宣布推出AQ4315-01ETG与SP4315-01WTG两款双向瞬态抑制二极管阵列,面向汽车与消费类高速接口,披露钳位电压、电容、ESD等级及供货计划。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
new 谷歌云联合英伟达规划96万颗Rubin GPU集群

谷歌云联合英伟达规划96万颗Rubin GPU集群

2026年10月21日柏林GTC大会上,谷歌云与英伟达公布基于Vera Rubin架构的多站点算力计划,规划Rubin GPU最高96万颗,单站点最高8万颗。A5X实例计划于2026年11月开放商用,首批客户包括Ineffable Intelligence。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
new ESPEC线性快速温变箱:面向JESD22-A104-D的样件表面温变控制能力

ESPEC线性快速温变箱:面向JESD22-A104-D的样件表面温变控制能力

围绕ESPEC TCC-150W线性快速温变箱的样件表面温度模式,梳理其与JESD22-A104-D样件表面15℃/分温变速率要求的对应关系、适用边界、操作确认点与选型送样注意事项。

admin admin 2026-10-23
0 0 0
老化效应的时间尺度错配:为什么HTOL全翻转应力会低估NBTI退化

老化效应的时间尺度错配:为什么HTOL全翻转应力会低估NBTI退化

HTOL全通过不等于所有路径都撑到十年。本文只讨论老化效应的时间尺度错配:持续偏置管子缺少NBTI恢复窗口,全翻转应力会掩盖真实退化,签核需用偏置模式占比、分域老化仿真和补充试验修正外推。

admin admin 2026-10-22
0 0 0
亚马逊向所有PyTorch开发者开放AWS Trainium AI芯片

亚马逊向所有PyTorch开发者开放AWS Trainium AI芯片

亚马逊宣布向所有PyTorch开发者开放AWS Trainium AI芯片。借助TorchNeuron,PyTorch代码可原生运行在Trainium上,仅需修改一项配置,无需改写业务代码。

admin admin 2026-10-22
0 0 0
佳能计划2029年将半导体后端光刻机产能提升50%

佳能计划2029年将半导体后端光刻机产能提升50%

2026年10月22日,据日媒报道,佳能计划到2029年将半导体后端工艺光刻设备产能较2026年提升50%,扩产面向封装、中介层及多芯片模块等后段曝光设备,不涉及前道先进制程光刻机。

admin admin 2026-10-22
0 0 0
焊点与连接器导通电阻的在线监测:四端子法在温度循环试验中的应用与IPC标准依据

焊点与连接器导通电阻的在线监测:四端子法在温度循环试验中的应用与IPC标准依据

四端子法在温度循环中在线监测焊点与连接器接点的微小电阻变化,核心是把电阻曲线与箱温曲线对照,并按绝对值或变化率判据判断失效。本文整理ESPEC AMR-UD系统的测量条件、操作步骤、标准依据与常见误区。

admin admin 2026-10-22
0 0 0
2026年10月
日
一
二
三
四
五
六
27
28
29
30
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
加载中...
热门文章

暂无文章