new 佳能计划2029年将半导体后端光刻机产能提升50%

佳能计划2029年将半导体后端光刻机产能提升50%

2026年10月22日,据日媒报道,佳能计划到2029年将半导体后端工艺光刻设备产能较2026年提升50%,扩产面向封装、中介层及多芯片模块等后段曝光设备,不涉及前道先进制程光刻机。

admin admin 2026-10-22
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new 焊点与连接器导通电阻的在线监测:四端子法在温度循环试验中的应用与IPC标准依据

焊点与连接器导通电阻的在线监测:四端子法在温度循环试验中的应用与IPC标准依据

四端子法在温度循环中在线监测焊点与连接器接点的微小电阻变化,核心是把电阻曲线与箱温曲线对照,并按绝对值或变化率判据判断失效。本文整理ESPEC AMR-UD系统的测量条件、操作步骤、标准依据与常见误区。

admin admin 2026-10-22
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new 宏昌电子三项珠海投资落地,加码先进封装材料与高端覆铜板产能

宏昌电子三项珠海投资落地,加码先进封装材料与高端覆铜板产能

宏昌电子2026年10月20日公告,董事会审议通过三项珠海地区投资议案,合计投资不低于12.6亿元,涉及先进封装膜材(GBF)、高端覆铜板及半固化片、二期自动化及智能制造项目。

admin admin 2026-10-22
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new 马斯克披露Terafab节点:目标2028年Q3量产,明年奥斯汀产出SRAM测试芯片

马斯克披露Terafab节点:目标2028年Q3量产,明年奥斯汀产出SRAM测试芯片

当地时间2026年10月20日,马斯克在SpaceX电话会议上披露合资芯片制造企业Terafab的时间表:目标2028年第三季度量产,2027年5月至6月在奥斯汀研发基地产出首款SRAM测试芯片并上电运行。他同时提示该规划误差区间较大。

admin admin 2026-10-22
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new 小尺寸封装CDM测试:CC-TLP、低阻抗接触CDM与继电器CDM三种接触优先方案对比

小尺寸封装CDM测试:CC-TLP、低阻抗接触CDM与继电器CDM三种接触优先方案对比

面向裸片、晶圆级和小尺寸封装,接触优先CDM测试有CC-TLP、LI-CCDM与RP-CCDM三条路线。本文按原理、标准依据、操作时序与结果判读逐项对比,并说明原文为何认为目前没有公认最优方案。

admin admin 2026-10-22
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new 机器狗与具身智能芯片进展:兆易创新、极海半导体推出机器人专用MCU,沐曦、辉羲、进迭时空加速端侧方案落地

机器狗与具身智能芯片进展:兆易创新、极海半导体推出机器人专用MCU,沐曦、辉羲、进迭时空加速端侧方案落地

2026年上半年四足机器人出货统计不一,行业级应用贡献主要收入。兆易创新、极海半导体推进机器人专用MCU与认证,沐曦、辉羲智能、进迭时空推进端侧算力方案。

admin admin 2026-10-22
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new 先导基电双赛道协同:凯世通三款离子注入机部分量产、导入头部12英寸客户,先导微电子6N四氯化铪规模化供货

先导基电双赛道协同:凯世通三款离子注入机部分量产、导入头部12英寸客户,先导微电子6N四氯化铪规模化供货

2026湾芯展期间,先导基电旗下先导微电子与凯世通联合参展。凯世通三款离子注入机分别在逻辑、存储、化合物半导体产线完成验证,部分机型进入量产;先导微电子称6N级四氯化铪已稳定量产并规模化供货,进入海外客户供应链。

admin admin 2026-10-22
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英飞凌发布TRAVEO T2G CYT4EN车规MCU,面向座舱仪表盘图形显示

英飞凌发布TRAVEO T2G CYT4EN车规MCU,面向座舱仪表盘图形显示

2026年10月20日,英飞凌在德国慕尼黑发布微控制器TRAVEO T2G CYT4EN,面向汽车及两轮车仪表盘与车载显示应用。该器件支持外接LPDDR4内存、2.5D图形与3D场景渲染,可同时驱动两块Full HD屏幕,并满足ASIL-B功能安全等级要求。

admin admin 2026-10-21
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ESD静电防护测试全解析:HBM/CDM/MM、Latch-up与TLP/VF-TLP验证方法

ESD静电防护测试全解析:HBM/CDM/MM、Latch-up与TLP/VF-TLP验证方法

ESD测试不是单一项目。本文按HBM、CDM、MM、Latch-up/HT-LU、EOS与TLP/VF-TLP梳理验证层级、设备条件、操作步骤和常见误区,并说明车电AEC-Q要求下HBM不可跳级、CDM关注Corner Pin等要点;具体判据需按规范与项目确认。

admin admin 2026-10-21
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芯片可靠性验证:HTOL、温度循环与 HAST 各筛什么失效

芯片可靠性验证:HTOL、温度循环与 HAST 各筛什么失效

HTOL 考长期退化,温度循环考 CTE 失配疲劳,HAST 考潮气腐蚀与封装泄漏。本文把三种试验的失效机理、加速模型与外推逻辑拆开讲清楚:条件从哪来、结果怎么判、哪五种误判最常见。

admin admin 2026-10-21
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